Impedance analysis and AFM measurements of MoO3 thin films (2012)
Source: Program Book. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IQSC
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
ALCAZAR, José Carlos Bernedo et al. Impedance analysis and AFM measurements of MoO3 thin films. 2012, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2012. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/11encontro/. Acesso em: 21 maio 2024.APA
Alcazar, J. C. B., Lemos, R. M. J., Andrade, J. R. de, Pawlicka, A., Gundel, A., Carreño, N. L. V., & Avellaneda, C. A. O. (2012). Impedance analysis and AFM measurements of MoO3 thin films. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/11encontro/NLM
Alcazar JCB, Lemos RMJ, Andrade JR de, Pawlicka A, Gundel A, Carreño NLV, Avellaneda CAO. Impedance analysis and AFM measurements of MoO3 thin films [Internet]. Program Book. 2012 ;[citado 2024 maio 21 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/11encontro/Vancouver
Alcazar JCB, Lemos RMJ, Andrade JR de, Pawlicka A, Gundel A, Carreño NLV, Avellaneda CAO. Impedance analysis and AFM measurements of MoO3 thin films [Internet]. Program Book. 2012 ;[citado 2024 maio 21 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/11encontro/